X射线衍射Ultima IV 日本理学

通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。用于确定晶体结构。其中晶体结构导致入射X射线束衍射到许多特定方向。 通过测量这些衍射光束的角度和强度，晶体学家可以产生晶体内电子密度的三维图像。根据该电子密度，可以确定晶体中原子的平均位置，以及它们的化学键和各种其他信息。该设备的购置可以极大提高我所土壤结构研究领域的科研成果水平，使我所的科研手段和试验数据与国际先进水平接轨，并将极大促进高水平科研成果的产生。

X射线发生器:最大输出功率3kW； X光管:陶瓷X光管，Cu靶；测角仪:描方式:θ/θ测角仪，垂直放置，测角仪半径: 185mm，2θ范围: θs/0d 联动时，-3° ~+154°，可读最小步长: 0.0001 ，角度重现性: 0.0001；全套狭缝，包括DS,RS,SS,索拉狭缝；半导体阵列探测器；有效面积: 256mm2；测试模式:包括高强度和荧光去除模式。

测试项目：